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ZSXPrimusII波長色散X射線熒光光譜儀特點介紹

廣州儀德公司專業代理日本理學波長色散X射線熒光光譜儀?，在理學光譜上得到廣泛用戶的好評與支持，日本理學波長色散光譜儀應用非常的廣泛：電子和磁性材料、化學工業、陶瓷及水泥工業、鋼鐵工業、非鐵合金、地質礦產、石油和煤、環境保護。同時檢測材料狀態也比較比樣性：粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。

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理學ZSX PrimusⅡ波長色散X射線熒光光譜儀對礦石測定方法

日本理學ZSX PrimusⅡ型X射線熒光光譜分析儀，該儀器為上照式端窗型單道掃描儀，配備LiF200、PeT、Ge、RX25、RX45共五塊晶體，性能優越，高精密度以及低檢出限，可測試從N~U的的所有元素的定量分析和半定量分析。

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Micro-ZUL波長色散X射線熒光低硫分析儀規格特點

理學Micro-ZUL波長色散X射線熒光低硫分析儀是儀德公司代理的一款進口產品，它是石油基燃料中硫分析的理想解決方案，具有較低的檢測限，S(LLD)0.3ppm。穩固的光學系統安裝在真空環境中，配置專門設計的RX-9雙彎曲分光晶體，Mirco-ZULS提供一貫的高靈敏度測量。從校準到日常分析的所有操作，可以通過簡易操作界面來執行，即使初次使用的用戶也可以快速掌握。

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多數操作人員對日本理學波長色散X射線熒光光譜儀檢定規程可能不大清楚或者并沒有具體的操作，儀德公司分享采用日本理學波長色散X射線熒光光譜儀對項目檢定方法操作實例，方便廣大用戶進行學習，本方法來源于網絡數據供參考用，不做商業用。檢定項目操作實例以日本理學X射線熒光光譜儀為例，以表1為技術指標，進行分析測試。1、精密度測試精密度以12次連續重復測量的相對標準偏差RSD表示。每次測量都必須改變機械設置條件，包括晶體、計數器、準直器、2θ角度、濾波片、衰減器和樣品轉臺位置等。上式中：s——n次測量的標

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波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型X射線熒光光譜儀兩款產品的區別

日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型X射線熒光光譜儀兩款產品各有獨自的優勢，針對不同類的樣品檢測各有著長處之處，波長色散型X熒光光譜儀在分析上有著很高的精確度和精密度，能量色散型多數用去牌號的快速檢測和篩選。下面從這兩款光譜儀的原理與功能介紹它們之間的存的區別有哪些。

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日本理學波長色散型熒光光譜儀四大優勢特點

日本理學波長色散型熒光光譜儀(WD-XRF),一般由光源(X-射線管)、樣品室、分光晶體和檢測系統等組成。為了準確測量衍射光束與入射光束的夾角，分光晶體系安裝在-一個精密的測角儀上，還需要一龐大而精密并復雜的機械運動裝置。由于晶體的衍射，造成強度的損失，要求作為光源的X射線管的功率要大,一般為2~3千瓦。但X射線管的效率極低，只有1%的電功率轉化為X射線輻射功率,大部分電能均轉化為熱能產生高溫,所以X射線管需要專門的冷卻裝置(水冷或油冷)，因此波譜儀的價格往往比能譜儀高。

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ZSX Primus Ⅱ波長色散型X射線熒光光譜儀解決初始化無法進行兩種方法

進口ZSX Primus Ⅱ色散型X射線熒光光譜儀是日本理學推出的波長熒光光譜儀，性能先進，操作方便，已廣泛應用于地質、鋼鐵、冶煉、醫藥等多領域。但在實際使用過程中有時會出現這樣那樣的故障，影響正常測試工作的及時性和測試結果的準確性，文章針對ZSX Primus Ⅱ波長色散型X射線熒光光譜儀的初始化無法進行的兩個常見的故障現象進行介紹，介紹故障出現的問題、原因分析及解決方法，希望對大家有所幫助。初始化無法進行故障一故障現象：安裝新光管后主機與計算機不能連接，也沒有錯誤信息提示。原因分析：錯誤現象表明計算機系統探

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Supermini200 波長色散型臺式X射線熒光光譜儀檢測范圍

理學多年的積累研制的Supermini200 小型波長色散型儀器，由高性能的硬件和最新軟件的完美結合，使得臺式機具有高精度、高穩定的機能。Supermini200 波長色散型臺式X射線熒光光譜儀檢測性能非常的高，同一個畫面上的分析、測量、結果確認操作簡單。Supermini200還配置了高功率200W的Pd靶陶瓷管，能夠進行高靈敏度的分析。Supermini200波長色散型X射線熒光光譜儀能快速解決各行業元素分析檢測問題，大大提高工作效率。下面簡單介紹其中部分分析應用：部分應用1、含有稀土類重元素等氧化物的定性分

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波長色散型XRF-ZSX Primus系列X射線熒光光譜儀應用

隨著用戶的需要也變得先進和多樣化，理學集團長年以來的技術研發、工藝技巧、分析方法之精髓匯集于一體，不斷滿足用戶不斷改變的需求，理學集團研發了先進的XRF-ZSX Primus系列在各大行業中被廣泛的應用。其中XRF-ZSX Primus/III+/IV 波長色散型X射線熒光光譜儀在技術上更加的先進，下面為大家簡單介紹波長色散型X射線熒光光譜儀在部分領域中的應用。部分應用1、鐵礦石分析 ASTM C114粉狀硅酸鹽水泥分析2、熔片法巖石分析3、FeCoNi合金元素分析4、低合金鋼、不銹鋼中Si,Mn,P,S,Ni,C

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直讀光譜儀--國內外的發展史

光譜起源于17世紀，1666年物理學家牛頓第一次進行了光的色散實驗。他在暗室中引入一束太陽光，讓它通過棱鏡，在棱鏡后面的自屏上，看到了紅、橙、黃、綠、蘭、靛、紫七種顏色的光分散在不同位置上——即形成一道彩虹。這種現象叫作光譜．這個實驗就是光譜的起源，自牛頓以后，一直沒有引起人們的注意。經歷了100多年的發展探索與研究，1859年克希霍夫和本生為了研究金屬的光譜自己設計和制造了一種完善的分光裝置，這個裝置就是世界上第一臺實用的光譜儀器，研究火焰、電火花中各種金屬的譜線，從而建立了光譜分析的初步

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ZSXPrimusII波長色散X射線熒光光譜儀特點介紹

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