大氣粉塵濾片分析事例（中國環境標準）

大氣粉塵濾片分析事例（中國環境標準）日本理學正是大氣顆粒物元素分析的“老字號”，90年代已經跟中日友好環境保護中心合作建立大氣粉塵濾片的分析方法。使用XRF分析大氣粉塵非常的容易。濾片基本上原樣分析，使用上照式波長色散x射線熒光光譜儀時不用擔心粉塵落下，濾片一般對X射線沒有那么耐性，所以調整分析條件更好1、把功率下降一點2、使用濾光片（Be,Al,Ni）必備工具：樣品處理工具配件（鋁制或者鈦制中空樣品杯，樣品支持板等等）推薦：對III型追加Ge晶體補充：大氣粉塵定量分析

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環境分析應用事例

石油分析（質量控制）-汽油中鉛的定量分析事例-1、鉛是抗震劑，現在也為航空燃料使用，但是為了汽車燃料不可以。2、有時從煉油廠混入，有時故意混合（違反）。3、鐵/錳也是抗震劑。4、硫/氯是原油里含有的，都是發動機不好。5、硫也是全球規制的元素，因為對大氣污染的原因之一。分析設備：波長色散x射線熒光光譜儀

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固體廢棄物分析方法（篩選分析）

固體廢棄物分析（篩選分析）1、在污水殘渣的原樣分析，對過半數元素通過SQX分析的固定角分析滿足HJ781-2016的LLD規定。雖然HJ781-2016是ICP-OES的標準，但是WDXRF也能作為篩選分析法使用。2、為了防止從樣品揮發成分的污染，使用樣品薄膜覆蓋殘渣樣品。3、如果可以的話，推薦灰化樣品。4、樣品設置時，上照式儀器很方便。推薦儀器：理學ZSX Primus III=/IV波長色散X射線熒光光譜儀必須品：樣品處理工具配件（MicroCarry,中空樣品杯，樣品薄膜，微量粉末容器），SQX軟件

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光譜秘籍：波長色散X射線熒光光譜儀測定潤滑油中22種金屬元素

文章中使用波長色散X射線熒光光譜法測定潤滑油中添加劑和磨損金屬元素的含量，較好地克服磨損顆粒的尺寸對測定結果的影響，樣品不需要前處理，是一種快速、高效、準確度高的方法。

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中檢集團某公司便攜式土壤分析儀應用成功案例

中檢集團某公司便攜式土壤分析儀應用成功案例！購買手持式X射線熒光光譜儀（便攜式土壤分析儀）主要在野外和現場分析土壤樣品，初步篩查土壤污染物成分和種類及污染程度。土壤和淤泥重金屬污染監測，也可以分析礦石、尾礦和精礦等樣品。

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2020端午放假通知 — 儀德科學

廣州儀德精密科學儀器股份有限公司（原廣州市儀德科學儀器有限公司）創立于2005年，十三年來堅持服務于國內實驗分析領域，專注于各類儀器的研究制造與營銷服務，是一家專門為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實驗室而組建的高新技術企業。  產品資源豐富，種類齊全，涵蓋實驗室通用儀器、化學分析、表面科學等，如全譜直讀光譜儀、波長\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮

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X射線熒光光譜儀測定銅礦物類質實例應用

銅礦物在自然界存在形式多樣，有原生帶次生富集帶和氧化帶等，共生礦物和伴生礦物眾多，對于此類礦物的鑒別需要借助化學分析方法或微區分析技術。

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運用X射線熒光光譜儀如何測定石灰巖白云巖中的氯和硫

石灰巖和白云巖中硫和氯的含量不同會影響材料運用效應。測定石灰巖和白云巖中硫的含量一般采用燃燒碘量法，測定氯的含量就采用氯化銀比濁法。運用X射線熒光光譜儀可對巖石中元素含量進行測定。

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波長色散X射線熒光光譜儀對涂層中元素的定點分析示例

在波長色散X射線熒光光譜儀在金屬元素的測定分析已經是應用非常的成熟具有典型的用戶及實驗配套方案。其中，在涂層方面的檢測也有很好的應用，如涂料紙上的涂料中有線狀異物，用CCD定點分析可以不破壞樣品得知其組成成分。CCD定點分析是利用儀器的內置CCD相機和樣品臺驅動裝置，指定樣品表面任意位置，進行定性或定量分析，這是X射線熒光光譜儀ZSX系列新添加的功能。另外，在此介紹如何使用樣品臺驅動裝置對檢測出的組成成分進行元素分布分析。操作部分一、分析儀器日本理學      波長色散型X射線熒光光譜

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波長X射線熒光光譜儀——溶結凝灰巖半定量分析

廣州儀德精密科學儀器股份有限公司（原廣州市儀德科學儀器有限公司）創立于2005年，十三年來堅持服務于國內實驗分析領域，專注于各類儀器的研究制造與營銷服務，是一家專門為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實驗室而組建的高新技術企業。在日本理學波長色散X熒光光譜儀有專業的銷售經驗及技術團隊，而且在各行業領域應用非常的廣泛，其中對礦石、巖石測定分析也非常的成熟。溶結凝灰巖由熔巖凝固而成，分為玻璃狀的微區鏡面部分和火山灰等基質部分。鏡面部分是顯示巖漿本質的物質，通過對其組成的分析，可以獲得重要的信息。

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ZSX Primus波長X射線熒光光譜儀對片狀切削的鋼種的判別

廣州儀德公司專業代理日本理學波長X射線熒光光譜儀，在近年來，在X射線熒光分析的樣品置備方面，對微小及微量樣品的要求日趨嚴格。針對用傳統儀器不能解決的樣品制備及測試等問題，通過對儀器的高靈敏度化和新方法的開發，不僅解決了以上問題，而且應用范圍越來越廣泛。下面分享如何應用ZSX Primus系列波長X射線熒光光譜儀能夠以CCD相機拍攝樣品表面后得到的圖象為基礎，指定任意測試位置進行定性分析的儀器，通過對一片片狀切削屑進行定性分析及半定量值分析的結果，判別其鋼種。操作部分一、儀器波長色散X射線熒光光譜儀（ZSX Prim

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波長色散X射線熒光光譜儀對花崗巖分析

廣州儀德X射線熒光光譜儀對礦石領域的金屬元素分析有著豐富的經驗及完整的配套方案，下面分享通過日本理學波長色散X射線熒光光譜儀對花崗巖的元素分析。俗稱御影石的花崗巖屬于酸性深成巖，是由石英，斜長石，云母，角閃石等構成的礦物質。在此介紹如何使用ZSX新功能---CCD相機和樣品臺驅動裝置組合，對花崗巖進行CCD元素分布分析。CCD元素分布分析是利用儀器內置的CCD相機對直接觀察樣品表面，指定任意位置進行的元素分析。實驗操作部分一、儀器ZSX系列波長色散X射線熒光光譜儀（日本理學）二、樣品制備將樣品按樣品架大小切割，打磨

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日本理學上照式X射線熒光光譜儀對風化堆積巖的分析方法

礦石開采及礦石判定需要的精準的進行分析測定廣州儀德代理的日本理學X射線熒光光譜儀可以輕松解決，下面通過實際案例分享測定方法，為礦產行業提供寶貴經驗。為對局部變色堆積巖的變色原因進行無損檢查，使用X射線熒光分析儀作CCD定點分析及元素分布分析。CCD定點分析和元素分布分析是根據儀器內置的CCD相機和樣品臺驅動裝置的組合，指定任意位置進行測試的方法。就此分析而言，這是一種非常有效的測試方法。這次以分析面積為0.5mm?的小分析直徑進行元素分布分析。即使是小直徑分析，也可得到很高的精度，在短時間內得到滿意的結果。實驗操作

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日本理學波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點分析及面掃描分析

廣州儀德公司專業銷售日本理學波譜，波譜不限于材料的形狀，應用多領域金屬元素的測定分析。本文章簡單介紹日本理學ZSXPrimusⅣ波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點分析及面掃描分析，為礦石領域對巖石測定分析提供寶貴經驗。使用儀器分析室內置的相機將巖石樣品中需要關注的測量范圍放大后進行了分析。紅框內擴大了的范圍由右圖表示。可以更精密地指定測量位置。面掃3描分析結果微區測繪測繪數據的測繪視圖統合為以攝像圖和數據(圖、測量數據)來表示。圖示種類有不同模式，可以采用有效的圖示。各測量點的Mg-Kα的譜線比較SQX方法做的定

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精密儀器之X射線熒光光譜儀

簡介：X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調查和研究，地球化學，法醫學，考古學和藝術品，例如油畫和壁畫。使用型態：XRF用X光或其他激發源照射待分析樣品，樣品中的元素之內層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發的電子返回基態的時候，

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日本理學波長色散X射線熒光光譜儀無法開啟X射線的解決方法

廣州儀德專業代理日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀，本次文章主要分享理學中其中一款X射線熒光光譜儀在開啟X射線管時出現下述故障現象?故障現象:無法開啟X射線?錯誤級別:失敗發生部件:XG發生器錯誤原因:與XG發生器通訊控制出錯錯誤代碼:11錯誤及產生原因:X射線發生器沒有初始化,所以不能夠控制XG?維護信息:關閉ZSX軟件,并重新啟動初始化。解決辦法1、按照儀器給出的維護信息,關閉ZSX應用軟件,關掉主機,過5分鐘后,重新開啟X熒光儀,ZSX應用軟件正常運行,X熒光儀主機正常初始化,儀器狀態正常?開啟X-ray時,

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ZSXPrimusII波長色散X射線熒光光譜儀特點介紹

廣州儀德公司專業代理日本理學波長色散X射線熒光光譜儀?，在理學光譜上得到廣泛用戶的好評與支持，日本理學波長色散光譜儀應用非常的廣泛：電子和磁性材料、化學工業、陶瓷及水泥工業、鋼鐵工業、非鐵合金、地質礦產、石油和煤、環境保護。同時檢測材料狀態也比較比樣性：粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。

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理學ZSX PrimusⅡ波長色散X射線熒光光譜儀對礦石測定方法

日本理學ZSX PrimusⅡ型X射線熒光光譜分析儀，該儀器為上照式端窗型單道掃描儀，配備LiF200、PeT、Ge、RX25、RX45共五塊晶體，性能優越，高精密度以及低檢出限，可測試從N~U的的所有元素的定量分析和半定量分析。

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什么是波長色散x射線熒光光譜儀？

波長色散x射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）。從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。它的優點是不破壞樣品，分析速度快，適用于測定原子序數4以上的所有化學元素，分析精度高，樣品制備簡單。X射線或其他光子源激發待測物質中的原子,使之產生熒光（次級X射線）。從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量色散型。波長色散型XRF光譜儀由X射線管激發源，分

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日本理學波長色散X射線熒光光譜儀對項目檢定操作實例

多數操作人員對日本理學波長色散X射線熒光光譜儀檢定規程可能不大清楚或者并沒有具體的操作，儀德公司分享采用日本理學波長色散X射線熒光光譜儀對項目檢定方法操作實例，方便廣大用戶進行學習，本方法來源于網絡數據供參考用，不做商業用。檢定項目操作實例以日本理學X射線熒光光譜儀為例，以表1為技術指標，進行分析測試。1、精密度測試精密度以12次連續重復測量的相對標準偏差RSD表示。每次測量都必須改變機械設置條件，包括晶體、計數器、準直器、2θ角度、濾波片、衰減器和樣品轉臺位置等。上式中：s——n次測量的標

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