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            2020 04-22
            ZSX Primus波長X射線熒光光譜儀對片狀切削的鋼種的判別

            廣州儀德公司專業代理日本理學波長X射線熒光光譜儀,在近年來,在X射線熒光分析的樣品置備方面,對微小及微量樣品的要求日趨嚴格。針對用傳統儀器不能解決的樣品制備及測試等問題,通過對儀器的高靈敏度化和新方法的開發,不僅解決了以上問題,而且應用范圍越來越廣泛。下面分享如何應用ZSX Primus系列波長X射線熒光光譜儀能夠以CCD相機拍攝樣品表面后得到的圖象為基礎,指定任意測試位置進行定性分析的儀器,通過對一片片狀切削屑進行定性分析及半定量值分析的結果,判別其鋼種。操作部分一、儀器波長色散X射線熒光光譜儀(ZSX Prim

            2020 04-20
            波長色散X射線熒光光譜儀對花崗巖分析

            廣州儀德X射線熒光光譜儀對礦石領域的金屬元素分析有著豐富的經驗及完整的配套方案,下面分享通過日本理學波長色散X射線熒光光譜儀對花崗巖的元素分析。俗稱御影石的花崗巖屬于酸性深成巖,是由石英,斜長石,云母,角閃石等構成的礦物質。在此介紹如何使用ZSX新功能---CCD相機和樣品臺驅動裝置組合,對花崗巖進行CCD元素分布分析。CCD元素分布分析是利用儀器內置的CCD相機對直接觀察樣品表面,指定任意位置進行的元素分析。實驗操作部分一、儀器ZSX系列波長色散X射線熒光光譜儀(日本理學)二、樣品制備將樣品按樣品架大小切割,打磨

            2020 04-17
            日本理學上照式X射線熒光光譜儀對風化堆積巖的分析方法

            礦石開采及礦石判定需要的精準的進行分析測定廣州儀德代理的日本理學X射線熒光光譜儀可以輕松解決,下面通過實際案例分享測定方法,為礦產行業提供寶貴經驗。為對局部變色堆積巖的變色原因進行無損檢查,使用X射線熒光分析儀作CCD定點分析及元素分布分析。CCD定點分析和元素分布分析是根據儀器內置的CCD相機和樣品臺驅動裝置的組合,指定任意位置進行測試的方法。就此分析而言,這是一種非常有效的測試方法。這次以分析面積為0.5mm?的小分析直徑進行元素分布分析。即使是小直徑分析,也可得到很高的精度,在短時間內得到滿意的結果。實驗操作

            2020 04-15
            分析儀器有哪些分類?

            廣州儀德專業銷售元素分析儀,具有多領域多行業設備,為各大廠家提供專業的配套方案。到底什么是儀器分析?下面廣州儀德用一張圖表簡單跟大家分享一下。儀器分析是一大類分析方法的總稱,一-般的說,儀器分析是指采用比較復雜或特殊的儀器設備,通過測量物質的某些物理或物理化學性質的參數及其變化來獲取物質的化學組成、成分含量及化學結構等信息的一類方法。或者說通過施加給測試樣品一定的能量,然后分析其對聲、光、電等物理或物理化學信號的響應程度或變化大小。分析儀器即測量這些信號及變化的裝置。根據待測物質在分析過程中被測量或用到的性質,儀器

            2020 04-13
            直讀光譜儀日常操作經驗圖片合集

            直讀光譜儀日常操作經驗圖片合集:

            2020 04-13
            日本理學波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點分析及面掃描分析

            廣州儀德公司專業銷售日本理學波譜,波譜不限于材料的形狀,應用多領域金屬元素的測定分析。本文章簡單介紹日本理學ZSXPrimusⅣ波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點分析及面掃描分析,為礦石領域對巖石測定分析提供寶貴經驗。使用儀器分析室內置的相機將巖石樣品中需要關注的測量范圍放大后進行了分析。紅框內擴大了的范圍由右圖表示。可以更精密地指定測量位置。面掃3描分析結果微區測繪測繪數據的測繪視圖統合為以攝像圖和數據(圖、測量數據)來表示。圖示種類有不同模式,可以采用有效的圖示。各測量點的Mg-Kα的譜線比較SQX方法做的定

            2020 04-10
            理學ZSX PrimusIV波長色散X射線光譜儀特點

            廣州儀德專業代理日本理學ZSX PrimusIV波長色散X射線光譜儀,波長色散型光譜儀可解決多種不同類型樣品金屬元素分析,有效快速幫助各類行加工、生產。本文章分享ZSX PrimusIV波長色散X射線光譜儀這款設備的特點。硬件最安全、軟件最安心、維護最方便萬一的失誤導致儀器損壞令人十分痛心。高性能的精密分析儀器ZSXPrimusIV設計為即便粉末樣品發生粉末飛散也不會損壞儀器的上照射方式。在軟件上也設計為防止操作失誤的用戶分級管理方式。即便粉末樣品松散下落也不會污染光學系統-上照射方式因為采用上照射方式粉末壓片樣品

            2020 04-09
            精密儀器之X射線熒光光譜儀

            簡介:X射線熒光光譜儀(X-rayFluorescenceSpectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光(X-rayfluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調查和研究,地球化學,法醫學,考古學和藝術品,例如油畫和壁畫。使用型態:XRF用X光或其他激發源照射待分析樣品,樣品中的元素之內層電子被擊出后,造成核外電子的躍遷,在被激發的電子返回基態的時候,

            2020 04-08
            日本理學波長色散X射線熒光光譜儀無法開啟X射線的解決方法

            廣州儀德專業代理日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀,本次文章主要分享理學中其中一款X射線熒光光譜儀在開啟X射線管時出現下述故障現象?故障現象:無法開啟X射線?錯誤級別:失敗發生部件:XG發生器錯誤原因:與XG發生器通訊控制出錯錯誤代碼:11錯誤及產生原因:X射線發生器沒有初始化,所以不能夠控制XG?維護信息:關閉ZSX軟件,并重新啟動初始化。解決辦法1、按照儀器給出的維護信息,關閉ZSX應用軟件,關掉主機,過5分鐘后,重新開啟X熒光儀,ZSX應用軟件正常運行,X熒光儀主機正常初始化,儀器狀態正常?開啟X-ray時,

            2020 04-07
            ZSX PrimusⅡX射線發生器故障的排除

            廣州儀德公司專業代理日本理學ZSXPrimusⅡ型波長色散X熒光光譜儀,今天分享ZSX PrimusⅡ波長色散X熒光光譜儀在使用過程中頻繁出現X射線發生器發生異常狀態故障現象及故障處理,其錯誤級別:失敗,出錯部位:X射線發生器,錯誤內容:X射線發生器異常狀態,錯誤代碼:23?(故障記錄如下圖片所示)故障處理1、首先排除光管散熱差造成的故障?清潔二次水(內循環水)過濾器濾芯,恢復后,流量有所改善(3.75L/min-3.80L/min),但是故障依然?2、補足二次水(內循環水)水箱,并調節其水壓由0.32MPa-0.

            2020 04-03
            ZSXPrimusII波長色散X射線熒光光譜儀特點介紹

            廣州儀德公司專業代理日本理學波長色散X射線熒光光譜儀?,在理學光譜上得到廣泛用戶的好評與支持,日本理學波長色散光譜儀應用非常的廣泛:電子和磁性材料、化學工業、陶瓷及水泥工業、鋼鐵工業、非鐵合金、地質礦產、石油和煤、環境保護。同時檢測材料狀態也比較比樣性:粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。

            2020 03-30
            什么是波長色散x射線熒光光譜儀?

            波長色散x射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子,使之產生熒光(次級X射線)。從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀,有色散型和非色散型兩種。它的優點是不破壞樣品,分析速度快,適用于測定原子序數4以上的所有化學元素,分析精度高,樣品制備簡單。X射線或其他光子源激發待測物質中的原子,使之產生熒光(次級X射線)。從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀,有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量色散型。波長色散型XRF光譜儀由X射線管激發源,分

            2020 03-30
            Micro-ZUL波長色散X射線熒光低硫分析儀規格特點

            理學Micro-ZUL波長色散X射線熒光低硫分析儀是儀德公司代理的一款進口產品,它是石油基燃料中硫分析的理想解決方案,具有較低的檢測限,S(LLD)0.3ppm。穩固的光學系統安裝在真空環境中,配置專門設計的RX-9雙彎曲分光晶體,Mirco-ZULS提供一貫的高靈敏度測量。從校準到日常分析的所有操作,可以通過簡易操作界面來執行,即使初次使用的用戶也可以快速掌握。

            2020 03-25
            波長色散X射線熒光光譜儀環境條件與技術指標(分享版)

            根據JJG810-1993中華人民共和國國家計量檢定規程《波長色散X射線熒光光譜儀》,對儀器進行檢定/校準,在確保各項指標合格的前提下,儀器方可投入使用。本文對檢定中涉及的指標進行具體實驗分析統計,給出詳細的統計結果。并對檢定的項目進行了探討,為下一步檢定規程的修訂提供了建議。波長色散X射線熒光光譜儀檢定規程1993年的版本一直沿用至今天,但是X射線熒光光譜儀已經進行了飛速的發展,如今的波長色散X射線熒光光譜儀器已經發展到了波譜、能譜和微區掃描三者相結合的大型儀器,具備了更優異的檢測性能和新增了掃描性能,并且隨著國

            2019 10-29
            一分鐘掌握波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型光譜儀的原理結構

            多數人到現在還不清楚如何的區分波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型光譜儀的之間的區別到底有哪一些不一樣的,本文中使用表格的形式簡單的介紹兩者之間的原理結構,一分鐘快速掌握其中的奧秘。項目波長色散型能量色散型原理X熒光經晶體分光,在不同行射角測量不同元素的特征線X熒光直接進入檢測器,經電子學系統處理得到不同元素(不同能量)的X熒光能譜結構為滿足全波段需要,配置多塊晶體,根據單道掃描和多道同時測定的需要,設置掃描機構和若干固定通道無掃描機構,只用一個檢測器和多道脈沖分析器,結構簡單得多,無轉動件,可靠性高X-光管高功

            2019 10-24
            波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型X射線熒光光譜儀兩款產品的區別

            日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型X射線熒光光譜儀兩款產品各有獨自的優勢,針對不同類的樣品檢測各有著長處之處,波長色散型X熒光光譜儀在分析上有著很高的精確度和精密度,能量色散型多數用去牌號的快速檢測和篩選。下面從這兩款光譜儀的原理與功能介紹它們之間的存的區別有哪些。

            2019 10-21
            日本理學波長色散型熒光光譜儀四大優勢特點

            日本理學波長色散型熒光光譜儀(WD-XRF),一般由光源(X-射線管)、樣品室、分光晶體和檢測系統等組成。為了準確測量衍射光束與入射光束的夾角,分光晶體系安裝在-一個精密的測角儀上,還需要一龐大而精密并復雜的機械運動裝置。由于晶體的衍射,造成強度的損失,要求作為光源的X射線管的功率要大,一般為2~3千瓦。但X射線管的效率極低,只有1%的電功率轉化為X射線輻射功率,大部分電能均轉化為熱能產生高溫,所以X射線管需要專門的冷卻裝置(水冷或油冷),因此波譜儀的價格往往比能譜儀高。

            2019 10-17
            ZSX Primus Ⅱ波長色散型X射線熒光光譜儀探測器故障問題

            ZSX Primus Ⅱ波長色散型X射線熒光光譜儀在使用過程上假如出現了PC探測器的PHA調節不能正常進行怎么處理,廣州市儀德科學儀器有限公司工程師教你一招,自己也可以進行故障排除。故障現象:進行PHA日常調節時,PC探測器微分曲線譜峰太低,嚴重變形,無法計算分辨率、“錯誤內容”提示“因為脈高微分曲線的譜峰太低,所以不能進行PHA調節”,“維護信息”顯示:“可能使用了錯誤的PHA調節樣品,或者PHA調節的條件設置錯誤”。

            2019 10-15
            ZSX Primus Ⅱ波長色散型X射線熒光光譜儀中X光管故障解決問題

            ZSX Primus Ⅱ 波長色散型X射線熒光光譜儀在檢測過程中由于不正確的使用或者沒有定期的進行維護保養,容易造成機器的故障,下面跟大家分享ZSX Primus系列中二代波長色散型X射線熒光光譜儀在分析中出現X光管故障的現象、產生的原因與最終解決的二種方法。第一故障現象:正常使用過程中,X光管忽然關閉。“錯誤內容”提示“X射線發生器發生異常”,“維護信息”顯示:“探測到X射線發生器有異常情況”。原因分析:X射線發生器本

            2019 10-11
            ZSX Primus Ⅱ波長色散型X射線熒光光譜儀解決初始化無法進行兩種方法

            進口ZSX Primus Ⅱ色散型X射線熒光光譜儀是日本理學推出的波長熒光光譜儀,性能先進,操作方便,已 廣泛應用于地質、鋼鐵、冶煉、醫藥等多領域。但在實際使用過程中有時會出現這樣那樣的故障,影響正 常測試工作的及時性和測試結果的準確性,文章針對ZSX Primus Ⅱ波長色散型X射線熒光光譜儀的初始化無法進行的兩個常見的故障現象進行介紹,介紹故障出現的問題、原因分析及解決方法,希望對大家有所幫助。初始化無法進行故障一故障現象:安裝新光管后主機與計算機不能連接,也沒有錯誤信息提示。原因分析:錯誤現象表明計算機系統探

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