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            標樣:180-7108-0982

            熱門關鍵詞:SPECTRO德國斯派克光譜儀直讀光譜儀進口光譜標樣品牌

            斯派克SPECTROCHECK直讀光譜儀

            日本理學波長色散X射線熒光光譜儀 ZSX Primus III+

            產品分類: 波長熒光光譜儀(日本理學)
              訂購熱線:135-0001-7008

                日本理學波長色散X射線熒光光譜儀,快速定量元素分析的高性能WDXRF!

                上照射式波長色散X射線熒光光譜儀

                ZSX Primus III+

                理學ZSX Primus III+提供主要和次要原子元素的快速定量測定,從氧(O)到鈾(U)的最低標準的廣泛樣品類型。

                高度可靠性的上照射式光學系統

                ZSX Primus III+具有場新的上照射式光學配置。用戶再也不用擔心由于維護樣品室導致的路徑污染或停止時間。上照射式幾何結構消除了清掃的擔心并增加了時間。

                高精度樣品定位

                高精度樣品定位確保了樣品表面與X設吸納管之間的距離恒定。這對例如合金分析等需要高精度的應用非常重要。ZSX Primus III+使用一個獨特的光學配置執行高精度分析,用于減少由于例如電熔銖和壓片等樣品中的非平面表面導致的錯誤。

                SQX 基本參數軟件與EZ掃描軟件

                用戶使用EZ掃描軟件可以在無需任何事先設置即可分析位置樣品。這個節省時間的特征僅需點擊鼠標和輸入樣品名稱。結合SQX基本參數軟件,快速提供最準確的XRF結果。SQX能夠自動校正包括線重疊的所有矩陣效果。SQX還可以通過光電子(輕、超輕元素)、變化的環境、雜質和不同的樣品尺寸校正輔助的激發效應。使用匹配庫和完美的掃描分析程序提高準確性。

                上照射式波長色散X射線熒光光譜儀

                Features

                從O到U的元素分析

                上照射式光學最小化污染

                小占地面積節省實驗室空間

                高精度樣品定位

                特殊光學減少由于彎曲的樣品表面造成的錯誤

                統計過程控制(SPC)的軟件工具

                優化抽空和真空泄露率改善吞吐量


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