直讀光譜儀實現純錫雜質含量的準確測量

純錫主要應用于各種金屬制備、鑄造和合金制造，經常在板柵冶煉過程中隨時加錫，特別是Pb-Ca合金，由于用于免維護電池，對雜質含量要求較嚴，一些有害雜質如果含量超標會使電池的質量受到嚴重影響。純錫中雜質含量的測定迄今為止還沒有簡便、成熟、快速的方法，針對此問題，經過多次反復試驗，采用直讀光譜儀間接測定純錫中Cu、Ag、Bi、As、Sb、Zn六種元素含量，收到了較為理想的效果。

一、儀器與分析條件

1、光譜儀：SPECTROLAB M 型光譜儀

2、激發光源：火花光源，頻率200HZ

3、氬氣：高純氬氣

二、樣品制備

由于直讀光譜儀只限于鉛及鉛合金中各種雜質的分析，純錫不能直接用光譜儀進行測定，必須將純錫轉變為鉛基合金，而且轉變鉛基合金之后的元素含量范圍不得大于儀器通道的含量范圍，樣品必須均勻，為此我們分別作了如下實驗：

樣品溶解：稱取一定量的純錫樣品約20g左右和純鉛300g左右，先將純鉛置電爐上加熱溶解后，再放入純錫樣品（塊狀），待純錫溶解完全后，立即攪拌均勻，倒出鑄成鉛錠，備用。