RoHS檢測儀之XRF的原理

X射線定義：

l X射線是一種波長較短的電磁輻射,通常是指能量范圍在0.1-100KeV的光子.X射線與物質的相互作用主要有熒光.吸收.散射三種。X射線的熒光物質中的組成元素產生特征輻射,通過測量和分析樣品產生的X射線熒光,即可獲得樣品中的元素組成,得到物質成分的定性和定量信息.

l X射線光譜儀通常可分為兩大類:波長色散(WDXRF)和能量色散(EDXRF)X射線熒光光譜儀.

l X射線熒光分析技術的缺點是檢出限不夠低,不適于分析輕元素,依賴標樣,分析液體樣品手續比較麻煩.由于電感耦合等離子質譜儀(ICP-MS)具有極佳的痕量.超痕量分析能力.因此目前國內外分析實驗室一種流行的趨勢是同時配備X射線熒光光譜儀和電感耦合等離子質譜儀(ICP-MS).利用XRF分析含量較高的元素,而用ICP-MS分析低濃度的元素.

XRF應用領域

陶瓷

l 陶瓷元素分析

l 玻璃元素分析

l 水泥元素分析

環境