理學ZSX PrimusⅡ波長色散X射線熒光光譜儀對礦石測定方法

日本理學ZSX PrimusⅡ型X射線熒光光譜分析儀，該儀器為上照式端窗型單道掃描儀，配備LiF200、PeT、Ge、RX25、RX45共五塊晶體，性能優越，高精密度以及低檢出限，可測試從N~U的的所有元素的定量分析和半定量分析。

理學ZSX PrimusⅡX射線熒光光譜儀是大型的緊密分析儀器，其價格昂貴，具有準確、快速、無損、多元素同時測定、自度化程度高、測試含量范圍廣的特點。已經廣泛應用于鋼鐵、地質、冶金、礦山、水泥工業、陶瓷工業、石油、環保、食品、商檢等領域。

本文章通過理學ZSX PrimusⅡ波長色散X射線熒光光譜儀的無標樣線性E-Z掃描方法進行半定量分析，匹配軟件自帶的 數據庫，用SQX定性分析計算結果，對礦石樣品進行粉末壓片法進行測定分析。

實驗部分