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          3. 儀器:135-0001-7008

            標樣:180-7108-0982

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            硅青銅中雜質元素測定:直讀光譜SPECTRO LAB S應用

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            掃一掃!硅青銅中雜質元素測定:直讀光譜SPECTRO LAB S應用掃一掃!
            人氣:-發表時間:2021-04-08 11:53【

            硅青銅是銅合金青銅中的特定牌號,其包括Qsi3-1 ,Qsil -3 ,Qsi0.6-2 ,其要求分析檢測九個元素,由于分析元素多,標準含量低,使得分析檢測難度較大,根據光電直讀光譜儀的特點,制作了硅青銅的工作曲線和分析程序,并進行了比較,滿足了硅青銅的分析要求,檢測結果準確可靠,保證了分析檢測的及時、快速、準確,節省了大量的人力和物力。



            儀器

            直讀光譜分析儀SPECTRO LAB S(德國斯派克公司)



            實驗部分


            國家標準樣品Qsi313,成分如下表。

            表1.png



            比對校核


            取硅青銅標樣Qsi1-3進行分析,每個樣品分析三次取平均值,與化學定值結果比對,列出部分代表性元素,具體結果見表。


            硅青銅標樣對比數據(%).png


            從表中數據可以看出,其分析結果與化學定值一致性良好,差值小于允許差,說明該分析方法可靠,準確度高。



            精密度


            取已定值的國家標準樣品Qsi313-923-11, 進行精密度試驗,連續激發12次,計算平均值、標準偏差、相對偏差,結果見表。


            精密度檢驗(%).png


            從表數據中可以看出,各元素的RSD值均在0.87%~8.39%,精密度非常高,完全滿足標準要求。


            通過試驗,證明該分析方法簡便快速,精密度和準確度高,能夠滿足硅青銅在日常分析檢測的要求,在日常分析檢測中,只要保證試樣面符合分析要求,就能夠保證分析的準確性。



            直讀光譜分析儀SPECTRO LAB S



            40多年來,SPECTRO全心投入開發出世界先進的發射光譜儀。今天,斯派克公司完美引入CMOS探測器技術,徹底改變了高端電弧/火花分析技術的走向及未來。在所有同類分析儀中,SPECTROLAB S所提供分析速度超出想象,低元素檢測限,同時也可以提供超長的正常運行時間和非常具有前瞻性的靈活性。


            SPECTRO LAB S 擁有世界上第一個基于CMOS的探測器的記錄系統,該系統非常適合于高端金屬分析。從微量元素到多基體應用,它提供了快速、高度準確、異常靈活的技術選擇。


            樣品的分析速度是儀器先進性的重要標志,SPECTRO LAB S的推出完全滿足了金屬分析市場對速度的需求。例如:當檢測低合金鋼時,它可以在20秒或更短的時間內提供高準確度的測量值!


            從技術指標和實際使用效果看,SPECTRO LAB S均是適合金屬冶煉廠的測試需求。對于金屬再加工生產商、汽車和航空航天制造商、以及成品和半成品、電子產品、半導體等制造商來說,可以給出的解決方案同樣出色。


            創新點


            1、獨立雙光室,確保所有分析譜線都獲得很高分辨率。 SPECTROLAB S 配備兩套完整的專用光學系統。一個光室精確測量波長從120到240納米(nm);另一個光室,波長范圍從210到800納米(nm)。 兩個光室都采用先進的CMOS檢測器,具備恒溫裝置和壓力補償功能。


            2、等離子發生器數字光源和點火板可靠的新型高能LDMOS等離子發生器光源,為SPECTROLAB S 輸出高穩定的火花放電,頻率高達1000 Hz,只需要很短的時間即可完成測試,例如分析低合金鋼小于 20 秒。該系統還允許特定應用的火花參數設置,以優化分析性能。


            3、精密氬氣控制系統 SPECTROLAB S 采用全新程控流量。軟件根據分析程序精密設置氬氣流量。節約了氬氣消耗。氬氣閥體直接耦合到火花臺,無需管道連接,避免漏氣。


            4、火花臺清理間隔大大延長 堅固的陶瓷內芯避免積塵粘附。流暢的氣路設計確保了很少的粉塵殘留(使得清理間隔時間延長了8倍);對于大樣品量輸出的全自動光譜儀系統尤為重要。


            5、快速讀出系統 斯派克的GigE創新讀出系統確保海量數據的極速處理,從而支持卓越的儀器性能表現。實現了獨特的全光譜范圍譜圖記錄。


            6、低檢出限。SPECTROLAB S 采用的 CMOS+T技術,在關鍵元素的檢測限方面,超越光電倍增管技術的性能。通過配置參比通道,工作曲線可以獲得很好優化,可以快速定量分析ppm量級的高純金屬或合金中的痕量元素。


            7、元素在低合金鋼中平均檢測限改善2倍,元素在純鋁中的平均檢測限改善5倍。


            8、單一標樣實現整個系統的標準化, 此項每天可節省30分鐘工作時間。


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